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    易科泰样芯(芯体)扫描分析技术

    发布时间: 2019-12-12  点击次数: 1129次

     

    • 高分辨率样芯(芯体)扫描成像分析,全面反映二维密度/质地和化学成分分布
    • 岩矿样芯、海洋湖泊沉积样芯、树木年轮样芯等
    • RGB 扫描成像与CT 技术密度扫描成像
    • 高光谱扫描成像分析
    • XRF 元素扫描分析
    • 高通量、非损伤
    • 可选配LIBS 元素分析

     

    1、CoreScanner 样芯密度与元素扫描分析系统

    样芯CT 扫描成像、可见光(RGB)成像、μXRF 元素扫描分析、磁化率扫描分析,用于地质岩矿样芯、沉积样芯多功能扫描成像分析。

     

    2、MultiScanner 年轮分析系统——年轮密度 CT与元素分析

    MultiScanner 在世界上*同时采用了XRF 元素分析技术和X-射线成像技术(CT), 可用于树木、湖海沉积物、泥炭等样品的密度扫描成像分析和元素分析,高分辨率、高灵敏度,可测量的元素有AlSiSClKCaCrMnFeCuZnAsHgPb 等,其中许多可测至痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合

     

    3、XRF Scanner 岩矿样芯元素扫描分析系统

    采用XRF、数字 X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术,非破坏性测量,获得样品高分辨率的数码图像,然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析,可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE(稀土元素) 浓度及分布。

     

    4、SisuCHEMA 高光谱成像分析系统

     

    包括推扫平台和高光谱成像仪,可对各种材料包括岩矿材料、沉积样体、植物材料、塑料等进行高光谱成像分析,样品大可达 200x300x45mm,大分辨率可达 30 微米。

     

    5、SisuSCS 单样芯高光谱成像扫描分析系统

    可对单个岩矿样芯、沉积样芯或其它芯体材料进行高光谱成像分析(VNIR 可见光近红外波段或SWIR 短波红外波段),芯体大小可达 130x1500x75mm

     

     

    6、SisuROCK 多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统

    集高分辨率可见光、VISIR(可见光近红外波段)、SWIR(短波红外)、MWIR(中波红外)LWIR(长波红外)高光谱成像分析技术,高通量、非损伤岩矿分析工作站

     

    7、SpectraScan 高光谱成像扫描分析系统

    Specim 高光谱成像技术、易科泰集成高光谱成像自动推扫平台,客户定制、高性价比, 可选配RGB 成像、红外热成像、中波红外成像、短波红外成像、多光谱成像等,用于岩矿芯体分析、年轮分析、植物生化分析、材料品质检测、食品检测等,可选配LIBS 元素分析系统,还可客户定制原位(in-situ)高光谱扫描分析系统。

     

    高光谱成像技术、XRF技术、LIBS技术,易科泰生态技术公司提供样芯扫描成像分析全面解决方案!

    综合利用高光谱成像技术、XRF 样芯扫描分析技术、LIBS 技术应用案例引自:Isabel Cecilia Contreras Acosta,etc. A Machine Learning Framework for Drill-Core Mineral Mapping Using Hyperspectral and High-resolution Mineralogical Data Fusion. 2019 IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing