• 技术文章ARTICLE

    您当前的位置:首页 > 技术文章 > PlantScreen高通量表型组学平台研究叶片衰老

    PlantScreen高通量表型组学平台研究叶片衰老

    发布时间: 2020-06-28  点击次数: 1726次

    韩国大邱基础科学研究所Jeongsik Kim、Pyung Ok Lim等,利用PlantScreen大型高通量表型组学研究平台,对植物叶片衰老进行了系列研究(参见论文:Jae IL Lyu etc. 2017. High-throughput and computational study of leaf senescence through a phenomic approach. Frontiers in Plant Science):

    image.png

    研究综合利用了平台的叶绿素荧光成像、VNIR高光谱成像、SWIR高光谱成像、RGB成像、红外热成像等高通量表型分析技术及系统提供的叶片跟踪分析功能(leaf tracking analysis),在线采集分析了150个表型性状参数,包括四十多个叶绿素荧光参数、近百个高光谱植物光谱反射指数参数,全面研究分析了拟南芥叶片生活周期及衰老表型组学。

    易科泰生态技术公司提供植物表型组学全面技术方案:

    1)FluorPen手持式叶绿素荧光仪、PlantPen/PolyPen手持叶夹式高光谱仪,提供方便实用、功能全面的手持式叶片水平(leaf-level)表型测量技术和监测技术

    2)便携式叶绿素荧光成像、高光谱成像、红外热成像、光合作用与叶绿素荧光成像复合系统,为大田作物表型组学研究提供方便实用、功能全面的便携式叶片水平和冠层水平表型测量技术

    3)实验室台式表型成像分析系统、作物种质资源检测系统,FluorCam叶绿素荧光成像、高光谱成像、红外热成像、RGB成像等表型分析全面技术方案

    4)大型高通量植物表型系统集成方案/PlantScreen表型分析平台

    a)FluorCam叶绿素荧光成像技术,植物生理功能表型分析主流技术

    b)多光谱荧光成像分析技术,多激发光、多光谱荧光,初级代谢、次级代谢表型组学研究

    c)VNIR高光谱、SWIR高光谱成像分析技术

    d)RGB 3D形态结构与颜色成像分析

    e)高分辨率红外热成像分析

    f)3D激光扫描分析

    g)高通量根系分析

    h)自动浇灌与称重

    5)野外大田表型分析技术

    a)Thermo-RGB红外热成像与RGB成像融合技术

    b)Specim高光谱成像技术

    c)Ecodrone®无人机遥感与近地遥感技术

    d)PhenoPlot轻便型表型分析系统

    e)SpectraScan大型高通量表型分析平台