PlantScreen 高通量植物表型分析平台在中国水稻研究所安装运行

北京易科泰植物表型团队协助厂商PSI公司科学家Klára Panzarová博士完成了PlantScreen高通量植物表型分析平台全面测试，以及历时一周的理论讲解、实验技术分享、实验操作和数据处理、上机练习等完整中英文售后服务，圆满交付中国水稻研究所水稻生物育种全国重点实验室。随后稻田生态与资源利用团队立即将该平台投入水稻干旱胁迫自动高通量测量实验，进行自动培养、自动传送、自动成像测量、自动数据分析、实时远程查看当前状态及结果数据，迄今已连续运行15天，当前仍在长期连续实验运行中。

北京易科泰生态技术有限公司谨向中国水稻研究所表示热烈祝贺，并将继续全力做好实验技术支持与设备维护工作。

PSI公司同步发布快讯，并对易科泰表型团队的支持工作表示感谢。 

该平台分为生长区（自动传送系统）和测量区。生长区可控温、控光、并对植株按照程序设定自动传送至测量区进行测量和浇灌；测量区具备光适应室、FluorCam叶绿素荧光成像测量、可见光和短波红外高光谱成像测量、RGB顶部和侧面360度成像测量、自动称重与浇灌功能。目前正在自动连续运行水稻干旱胁迫监测实验：水稻幼苗进行干旱处理（DRY组），6月8日(第10天)下午复水；对照组（CK组）由PlantScreen自动定时定量浇灌，如下为阶段性实验结果：

叶绿素荧光成像：可自动运行Fv/Fm、Kautsky诱导效应、Quenching（叶绿素荧光淬灭）、Light curve（光响应曲线）、GFP等Protocols（测量程序），并在线分析不同ROI的50多个叶绿素荧光参数。本实验中，两组幼苗移栽后都有损伤，在1-3天内，随着损伤修复，二者Fv/Fm_Lss参数逐渐上升；之后CK组参数值保持稳定，DRY组随着胁迫加剧参数值逐步下降，6月8日复水后呈恢复趋势，至今仍低于CK水平。

RGB顶部成像和360度侧面成像：可自动计算植株3维形态参数，包括株型紧凑度、叶片细长度、旋转对称性、株高、面积、周长等图像和曲线；以及色度分析图像和曲线。CK组和DRY组RGB数据趋势与叶绿素荧光成像参数变化趋势一致。

近红外及可见光（NIR）及短波红外（SWIR）高光谱成像：可自动分析NDVI、PRI等十几个植被指数包括水分含量指数图像。实验所得数据与FluorCam叶绿素荧光数据、RGB形态学数据变化趋势一致。