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XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统

更新时间：2019-03-25

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XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为 SC 单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和 MC 多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。

产品介绍

品牌	其他品牌	价格区间	面议
产地类别	进口

XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为 SC 单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和 MC 多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。

原理

XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。

主要技术特点

与其他XRF扫描仪相比，Itrax XRF扫描仪为所有元素提供了单位时间和长度的XRF数据质量，以及更高的样品通量
可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素）浓度及分布
测量不使用氦气，降低运行成本
结实耐用，轻松完成 24小时/7天无人值守操作
Itrax扫描仪是惟一一款可在一次扫描中确定所有元素的XRF扫描仪，同时为每个确定的元素提供数据
Itrax XRF是惟一一台在连续样品扫描中不会因降低或升高扫描头而降低能力的XRF扫描仪
非接触式分析与非常小的扫描头相结合，使Itrax XRF扫描仪非常擅长处理样品裂缝和斜坡——而不会破坏样品和数据
对于XRF分析，Itrax每单位步长分析所需时间仅为1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步长也是如此，与其它设备相比，具有*的高通量优势
Polyflat™X-光聚集技术，非接触性元素扫描分析，Micro X-光束对每个点精确扫描分析并可进行平均，如沿样芯每厘米的平均浓度或整个样芯的平均浓度
可分析元素相位分布及相关关系
具 RGB 高分辨率彩色镜头及 LED 光源、样品条码扫描器
软件包功能非常强大

应用案例一

通常情况下，页岩具有丰富的地质化学组成和痕量金属元素，可以反映其沉积环境、起源、成岩作用等。ITRAX 实验室应客户需求利用 XRF Scanner,以每点（point）每秒 1厘米的步进速度，对波罗的海 Oland 岛的页岩进行了扫描分析，分析记录了 2400 个点的元素数据（每个点代表页岩样芯剖面 1cm 的测量数据），发现有 30 多种元素，包括一些主要元素如Al、 Si、K、Ca、Ti、Fe，微量元素如 P、Cl、S、Mn、Rb、Sr，及痕量元素 V、Cr、Ni、Cu、Zn、 As、Br、Y、Zr、Mo、Nb、Ba、Pb、Th、U。结果表明，页岩样芯富含典型的粘土元素如Al、 K、Ti和Rb，同时TOC（总有机碳）代理元素如V、Ni、Mo及U也很典型。这意味着成岩作用在水底部缺氧、富含硫化物。

应用案例二

另一个案例为来自澳大利亚塔斯马尼亚州的富于稀土元素的岩矿样芯，XRF Scanner不仅给出了样芯各种元素的浓度，还可以显示样芯剖面各种元素的浓度分布，而且通过元素浓度相关分析，可以识别鉴定矿相（Mineral phases），如本样芯 Y（钇）与所有其它记录到的稀土元素（如 Nb、Ce、Pr、Nd、Dy）存在高度相关关系，这意味着 XRF 谱线中所有稀土元素都属同一矿相。