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PhenoTron®-HSI 种质资源高光谱成像分析系统
产品时间:2022-08-03
PhenoTron®-HSI种质资源高光谱成像分析系统,是易科泰公司推出的可用于种质资源检测鉴定、种子活力检测、种质资源表型性状监测评估的高光谱成像分析系统,具备快速、非损伤、高通量特点。可应用于种子、幼苗及根系等种质资源表型性状成像分析、叶绿素荧光成像检测、次级代谢产物荧光成像分析、种子活力检测、成分含量分析、种质资源性状监测评估等。

种子及种苗形态结构、活力、适合度、抗逆性、胁迫敏感性、生理生化指标等是作物种质资源品质监测评估的重要指标体系,其中种子活力是种子发芽和出苗率、幼苗生长的潜势、植株抗逆能力和生产潜力的总和(发芽和出苗期间的活性水平与行为),是种子品质的重要指标,具体包括吸涨后旺盛的代谢强度、出苗能力、抗逆性、发芽速度及同步性、幼苗发育与产量潜力。种子活力是植物的重要表型特征,传统检测方法包括低温测试(cold test)、高温加速衰老测试(accelerated aging test)、幼苗生长测定等。

PhenoTron®-HSI种质资源高光谱成像分析系统,是易科泰公司推出的可用于种质资源检测鉴定、种子活力检测、种质资源表型性状监测评估的高光谱成像分析系统,具备快速、非损伤、高通量特点。可应用于种子、幼苗及根系等种质资源表型性状成像分析、叶绿素荧光成像检测、次级代谢产物荧光成像分析、种子活力检测、成分含量分析、种质资源性状监测评估等,还可应用于杂质检测、病原体检测、成分检测、种质资源数字化、种苗(包括根系)成像分析、遗传育种性状检测与抗性筛选等。

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产品特点:

ü PTS技术,样品自动传送、无线控制、同步扫描成像分析、环境光屏蔽等功能于一体

ü 双重控制:嵌入式操作系统+PC端GUI软件,无线控制平台运行

ü 组合命令:支持自定义Protocols,可设置10条以上命令,实现系统自动运行

ü 内置温湿度、光照度传感器、时钟,实时反馈环境参数,可一键同步电脑时间

ü 集高光谱成像分析技术、高光谱荧光成像分析技术于一体,全面分析种质资源光谱指纹、生理生化组成(蛋白质、脂肪含量等)、种子活力等

ü 可选配Thermo-RGB红外热成像分析,用于种质资源综合检测、种子萌发散热测量(反应种子代谢强度等)及种苗气孔动态分析等

ü 可选配紫外光激发生物荧光成像模块,进行紫外光激发叶绿素荧光成像和BGF(蓝绿荧光)成像分析,高通量、高灵敏度检测种苗活力、光合效率及抗逆性,种质资源生理功能数字化数据库建设等

 

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技术指标:

ü 平台高度规格:标配400mm,可定制

ü 有效扫描尺寸:≥300×300mm,可定制

ü 移动速度:2-40mm/s,可调,精度:1mm

ü 主机箱:内置10寸触控屏,嵌入式操作系统,全波段对称光源,角度、高度可调,集开关控制、平台控制、杂散光隔离于一体,确保光场均一、稳定的最佳测量环境

ü 成像传感器选配:

型号

PhenoTron-FX10

PhenoTron-FX10/17

PhenoTron-sCMOS

PhenoTron-SWIR

波段范围

400-1000nm

400-1700nm

400-1000nm

1000-2500nm

光谱分辨率

5.5nm

5.5nm / 8nm

2.9nm

12nm

光谱通道

224(bin=2)

224(bin=2)/ 224

946

288

空间像素

1024

1024 / 640

2184

384

信噪比

400:1

400:1 / 1000:1

170:1-680:1

1050:1

数值孔径

F/1.7

F/1.7

F/2.4

F/2.0

帧频

330FPS

330FPS / 670FPS

100FPS

450FPS

UV-MCF-M

可选配

可选配

可选配

不可选配

 

ü SpectrAPP®高光谱成像分析软件:

a) 可进行伪彩色/灰度显示、波段融合、ROI选区、光谱指数分析、光谱曲线绘制、光谱特征统计、直方图统计、结果图/表导出等;

b) 可分析NDVI、PRI、DCNI、CRI、ARI、PSRI、NPQI、EVI、HI、WBI等数十种VIs参数,研究植物表型及结构信息、生物及非生物胁迫、色素含量、理化性状、种质、中药材及果实品种品质等指标;

ü FluorVision©高光谱荧光成像分析软件:

a) 基本分析:具备伪彩色/灰度显示、旋转显示、阈值掩膜、波段融合、手动/自动ROI分析、光谱曲线绘制、光谱平滑、光谱特征统计、路径分析、图/表导出等功能;

b) 荧光参数分析:可分析F440、F520、F690、F740、F690/F740、F520/F690、F735/F700、F440/F520、F440/F690、F440/F740等多种荧光参数,支持扩展;

c) 形态参数分析:可分析色素或校准面积、圆滑度(Circularity)、长宽比(Aspect ratio)、紧实度(Solidity)、圆度(Roundness)等;

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应用案例:

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