SpectraScan高光谱成像扫描平台，是易科泰基于PTS（Plant-To-Sensor）样品自动传送技术推出的一体化高光谱数据采集分析系统。集平台控制、样品传送、全自动数据采集、反射光谱校准及暗噪声去除等流程于一体。可对植物叶片或整株植物、根系、果实、种子等不同组织部位进行反射光高光谱成像分析，实现高通量、无损伤表型成像分析等。

主要特点如下：

Ø 嵌入式操作系统+PC端GUI软件双重控制

Ø 高光谱成像分析（反射光谱），400-1000nm、900-1700nm、1000-2500nm可选

Ø 可选配UV-MCF成像分析，可同时获得蓝色、绿色、红色及远红波段的荧光光谱成像，不仅可对生物荧光在二维尺度上进行成像分析，还可以在高光谱维度上进行荧光光谱分析

Ø 全中文GUI软件：可设置白板、暗参考、样品采集起始点、结束点位置，一键启动，平台自动移动并同步自动数据采集

Ø 软件内置算法模型，自动执行归一化反射率校准及暗噪声剔除校准

Ø SpectrAPP高光谱数据分析软件：具备多模式图像显示、波段融合、感兴趣区分析、光谱指数分析、光谱曲线绘制、光谱特征统计、直方图统计、形态分析、剖面分析等多种功能

Ø 应用于植物冠层/根系表型分析、种质资源检测研究、果蔬及食品品质、中药材、土壤/矿物、固废检测等实验室光谱成像分析

主要技术指标：

1) 嵌入式主控系统，全中文操作界面，触控屏+PC端GUI软件双重控制，可无线控制

2) 标配成像面积：30×30cm，可客户定制其他规格

3) 成像高度：400mm，可调

4) 平台移动速度：1-30mm/s，可调

5) 光源：系统同时集成全太阳光谱线性光源，对称入射，角度、高度可调

6) 400-1000nm高光谱成像： 线性推扫成像，CMOS探测器，出厂全光谱校准，光谱采样间隔优于1.35nm，光谱波段超400，具备多光谱成像功能，可根据需求自由选择感兴趣波段，最大称度减少数据冗余，提高光谱成像大数据处理分析效率，节省存储空间，可分段选择波段范围

7) 可成像分析植物生化、生理指标、光利用效率、健康指数、覆盖度、胁迫等近百种参数

8) SWIR高光谱成像（选配）：900-1700nm，可成像测量分析NDNI归一化N指数、NDWI归一化水指数、MSI水分胁迫指数等，可分析土壤有机碳及总氮状态

9) Thermo-RGB成像（选配）：同时具备红外热成像及RGB成像分析功能和融合分析功能，2000万像素RGB分辨率，采用多点精准融合技术，精确提取植物等目标红外热成像，可实现植物叶片/冠层温度分析、形态分析、颜色空间分析

10) 专业根系分析软件（选配），分析根系总长、总面积、总体积、根尖、分叉和交叠、根系直径等级等参数，也可进行根系颜色、连接、拓扑及发育分析