产品展示PRODUCTS

您当前的位置:首页 > 产品展示 > 土壤 > 土壤理化性质 > VIS-NIR土壤剖面理化性质勘测系统
VIS-NIR土壤剖面理化性质勘测系统
产品时间:2020-03-13
VIS-NIR土壤剖面理化性质勘测系统由可见光-近红外光谱仪、车载式土壤样芯钻测采样装置组成,同时配备土壤电导传感器,通过GPS定位和数据处理测绘软件,可以对区域范围内的不同样点土壤剖面的土壤反射光谱及土壤电导进行高密度自动抽样测量并绘制分布图,进而全面分析反映土壤剖面的碳氮分布、紧实度、质地、盐碱度、持水能力、阳离子交换能力(CEC)等,可用于土壤调查测绘、土壤碳汇评估。

当光源照射含有O-H、C-H、N-H的分子时,则引起分子的特异性振动,所以VIS-NIR光谱特性与土壤水、碳及氮含量有关,实际上也与钙镁含量及PH值、粘土含量有关。VIS-NIR土壤剖面理化性质勘测系统由可见光-近红外光谱仪、车载式土壤样芯钻测采样装置组成,同时配备土壤电导传感器,通过GPS定位和数据处理测绘软件,可以对区域范围内的不同样点土壤剖面的土壤反射光谱及土壤电导进行高密度自动抽样测量并绘制分布图,进而全面分析反映土壤剖面的碳氮分布、紧实度、质地、盐碱度、持水能力、阳离子交换能力(CEC)等,可用于土壤调查测绘、土壤碳汇评估、碳汇农业(土壤碳储量估算)、土地复垦监测、及精准农业的研究示范等领域。系统用2个光谱仪涵盖了350-2200nm的光谱,一个是可见光光谱仪,测量范围为350-1000nm;另一个是近红外光谱仪,测量范围1100-2200nm,全面反映土壤光谱特性;可同时测量土壤剖面光谱特性、土壤剖面电导分布及土壤紧实度(钻探阻力传感器),用于测绘土壤剖面碳氮分布、土壤有机质分布、土壤质地分布等等土壤理化特性;配套软件用于调控、数据记录与标准化及数据处理分析。

 

VIS-NIR土壤剖面理化性质勘测系统

技术指标: 

1. 光谱范围:350nm-2200nm;像素数量/波长(wavelengths):384

2. 采样频率:20 spectra/秒;光谱分辨率:8nm

3. A/D转换器分辨率:16比特

4. 检测器:3648元素东芝TCD1304AP 线性CCD阵列,256元素 InGaAs 线性成像传感器G9206-02

5. VIS-NIR光谱仪操作温度:-6.7-46°C

6. 机箱:温湿度监测,热电子冷却至25°C

7. 通讯界面:USB 1.1、2.0

8. 探头102cm x 2.54cm(直径),高硬度蓝宝石窗口,偶极EC接触,具压力(钻探阻力)传感器

9. 可同时纪录经纬度、深度、压力(钻探阻力,反映土壤紧实度)、电导及土壤剖面光谱特性

10. 液压旋动土壤样芯采取配置,样芯管直径5cm,长度89cm

11. 软件:数据采集、聚类分析、样点选择及导航

12. 3点挂接探头推进平台:54冲程汽缸,81x121x180cm,重约363kg

13. 撬装式(Truck-bed skid mount)探头推进平台(选配):长185cm、宽121cm、高94cm,重量771kg

 

产地:美国

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7